产品介绍：

DZ3320A差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。

测试范围：

DZ3320A差热分析主要测量是相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

性能优势：

1.仪器主控芯片采用ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更稳定。

2.采用USB双向通讯，操作更便捷。

3.采用7寸全彩LCD触摸屏，界面更友好。

4.采用镍铬合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。

5.可多段温度设置，双向操作系统，大大提高测试效率。

技术参数：