仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

　　介电常数测试仪的使用方法是什么呢？

　　1.被测样品的准备

　　被测样品要求为园形，直径25.4～27mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1～5mm之间，如太薄或太厚则测试精度就会下降，样品要尽可能平直。

　　下面推荐一种能提高测试性的方法：准备二片厚0.05mm的园形锡膜，直径和平板电容器极片一致，锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林，它起粘着作用，又能排除接触面之间残余空气，把锡膜再粘在平板电容器两个极片上，粘好后，极片呈镜面状为佳，然后放上被测样品。

　　2.测试顺序

　　先要详细了解配用仪器的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。

　　a.把配用的仪器主调谐电容置于小电容量，微调电容置于－3pF。

　　b.把本夹具测试装置插到仪器测试回路的“电容”两个端子上，即插入到仪器上方接线铜柱的右边两个圆柱内。

　　c.配上相适应的高Q值电感线圈，选择电感没有特别的方法，只有试或凭经验来选择合适的那个，一般选择使高频仪器显示Q值大的电感为合适。

　　注：以上步骤是为了使高频仪器工作起来（仪器是LC谐振工作原理，所以要选择合适的电感才能使仪器谐振）

　　d.调节平板电容器测微杆，使二极片相接为止，读取刻度值记为DO。

　　e.再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取新的刻度值，记为D1，这时样品厚度D2=D1－D0。

　　注：以上d和e两步是测出被测样片的厚度，方便后面计算介电常数时用。

　　f.把园筒电容器置于7mm处（该值不是的，我们一般在测的时候放到7mm处就可以测了，不过有的时候在做到h步0骤时顺时针旋转完刻度了Q值还没有达到一半，这时就要适当的把7mm刻度调整到9mm或更大了）。

　　g.改变配合介电常数测试仪频率，使之谐振，读得Q值。（如果测试材料样片有“要求的测试频率”，那么就先把频率定位到该频率，然后再调节仪器的主调电容，使仪器谐振（即仪器的Q值显示为大）；如果不知道在频率下测试的话，我们一般把频率放在1MHz下来调试，然后再调节主调电容使仪器工作）。

　　h.先顺时针方向，后逆时针方向，调节园筒电容器，读取当仪器指示Q值为原值的一半时测微杆上二个刻度值，取这二个值之差，记为M1。（先记下园筒电容在7mm时仪器谐振时的大Q值，即d步骤测得的Q值；然后调节园筒电容器，看仪器的Q值显示为原来的一半时，读取园筒电容器上边的刻度为多少，要顺时针和逆时针旋转两次取两个刻度值；如果园筒电容器顺时针转到0刻度时Q值还没有到一半，那么就要返回到第f步骤把园筒电容器置于9mm处或更大，重新操作）。

　　i.再调节园筒电容器，使仪器再次谐振（即把园筒电容器调回到7mm处）。

　　j.取出平板电容器中的样品，这时仪器又失谐，调节平

　　板电容器，使再谐振，读取测微杆上的读值D3，其变化值为

　　D4=D3－D0。

　　k.和h款操作一样，得到新的二个值之差，记为M2。

　　3.计算测试结果

　　被测样品的介电常数：Σ＝D2/D4；被测样品的损耗角正切值：tgδ＝K（M1－M2）/15.5；式中：K为园筒电容器线性变化率，一般为0.33。